聚合物材料的層狀結(jié)構(gòu)長度不一。 因而，以晶體狀聚合物為例，要求對各種長度層狀結(jié)構(gòu)的聚合物進行結(jié)構(gòu)評估，比如:從微米級球晶到亞納米級晶間離析等等。融合各種聚合物結(jié)構(gòu)評估技術(shù)，便可分析聚合物的不同層狀結(jié)構(gòu)。

使用現(xiàn)金的輻射光設(shè)備進行結(jié)構(gòu)分析
聚合物材料的結(jié)構(gòu)與特性隨著生產(chǎn)條件、工程工藝和使用環(huán)境的不同而出現(xiàn)明顯的變化。例如，薄膜拉伸中，施加拉力下的薄膜結(jié)構(gòu)在拉伸過程中和拉伸后截然不同。
能夠評估實際工程工藝中原位結(jié)構(gòu)的變化是否理想，但因為這些結(jié)構(gòu)變化在工藝過程中產(chǎn)生，因此需要專門的設(shè)備。使用先進的同步加速器輻射設(shè)備，強大的 X 射線功能，能夠觀察薄膜拉伸過程中的結(jié)構(gòu)變化，并能發(fā)現(xiàn)PVA膜不斷變化，從層狀結(jié)構(gòu)變?yōu)槔w維結(jié)構(gòu)。

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